SE SPC es un sistema multiusuario y multiplanta que automatiza el control estadístico de procesos de fabricación asegurando alta calidad y agilidad en la evaluación y toma de decisión. Los conceptos y métodos empleados por el sistema satisfacen completamente los requisitos exigidos en las normas ISO9000 y QS9000.
SE SPC utiliza poderosas herramientas estadísticas, que procesan instantáneamente la información recogida y alertan ante cualquier senal de anormalidad en el proceso, reduciendo la ocurrencia de desperdicio y tiempos improductivos en la fabricación. Todos los parámetros de CEP son configurables, permitiendo así su adecuación a las características de cualquier tipo de producto y proceso de fabricación utilizados en la empresa, incluso para las formas de producción en serie o continua.
SE SPC incorpora herramientas de organización, clasificación y búsqueda, que proporcionan un acceso simple e inmediato a los datos en forma de planillas y gráficos, permitiendo evaluar críticamente el grado de adecuación de los procesos en relación al objetivo especificado.
La arquitectura cliente/servidor para acceso a bases de datos tipo SQL, permite la integración del SE SPC a otros sistemas, o bien como adaptaciones específicas a las necesidades de la empresa.
Control estadístico de proceso por variables (mensurables) y atributos (no mesurables);- Cálculo automático de los índices de proceso - media amplitud, valores máximo y mínimo, z inferior y z superior, porcentaje de ítens no - conformes, Cp, Cpk, Pp, Ppk, límites de control , test de normalidad, curtosis, asimetría, secuencia, tendencia, etc.;
- Generación de diversas planillas y cartas de control, tales como media, amplitud, dispersión, histograma, número de defectos, proporción de ítems defectuosos, etc.;
- Ingreso de los datos del proceso a partir de la digitación en formularios cofigurables, importación de archivos, o interfase directa con los instrumentos de medición utilizados;
- Alarmas senalizadoras en tiempo real de problemas detectados en el proceso de fabricación;
- Emisión automática
de la bitácora anormal en el proceso, y clasificación de los respectivos motivos con mayor incidencia por periodo de tiempo;
- Identificación de defectos y causas con auxilio del diagrama de causa efecto Ishikawa y generación de gráficos cuantitativos y comparativos para el análisis;
- Estratificación de los datos a partir de diversos parámetros como producto, ítem de control, proceso, operación, máquina, periodo, turno, operador, lote, etc. Y presentación de los resultados en diversos gráficos como Pareto, pizza, barras, etc.;
- Rastreabilidad de los procesos a través de cualquier dato de identificación, como orden de producción, lote, turno, etc.
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